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Methode zur Kompensierung des Streulichtanteils bei der kontinuierlichen Modulationsinterferometrie

Steffen Klein (Broschiert, Deutsch)

Optischer Zustand
Beschreibung
Die ersten Matrix-Messsysteme zur Erfassung von drei-dimensionalen Strukturen, welche auf dem Prinzip der kontinuierlichen Modulationsinterferometrie, auch als phasenabhängige Lichtlaufzeitmessung bezeichnet, basieren, verlassen allmählich die Laboratorien und stellen damit eine interessante Alternative zu den klassischen Messverfahren dar. Die Erfassung der dritten Dimension steigert die Anzahl…  lösbarer Messaufgaben signifikant. Eine Lösung dieser Aufgaben war zwar auch bisher möglich, allerdings waren hier erhebliche Nachteile in Kauf zu nehmen. An dieser Stelle sei auf die Stereometrie verwiesen, welche einen hohen Rechenaufwand erfordert und voraussetzt, dass die zur Triangulation notwendigen Messpunkte in beiden Einzelbildern identifiziert werden. Derartige Nachteile sind den Messsystemen, die auf dem Verfahren der Lichtlaufzeitmessung beruhen, fremd. Allerdings unterliegen auch diese Messsysteme Limitationen, die auf das zugrunde liegende Messprinzip und dessen Umsetzung zurückzuführen sind und Messfehler- und Abweichungen zur Folge haben. Die mathematischen Grundlagen und ein physikalisches Modell des optischen Abbildungsprozesses dienen der Herleitung dieser Fehler und der Entwicklung von adäquaten Korrektur- bzw. Kompensierungsansätzen. Darüber hinaus werden die Messdaten durch externe Einflüsse, vornehmlich bedingt durch die Geometrie der betrachteten Szene selbst, verfälscht. In diesem Zusammenhang gilt es, zwei verschiedene Ursachen bzw. Auslöser zu differenzieren: Auf der einen Seite Mehrfach-Reflektionen innerhalb der Szene und auf der anderen Seite Reflektionen, verursacht von Objekten, die sich in geringem Abstand zum Messsystem in dessen Strahlengang befinden; im Folgenden als Streulicht bezeichnet. Während für den ersten Fehlerfall lediglich eine Abschätzung des Messfehlers mittels Simulation möglich ist, können im Gegensatz dazu Messabweichungen, die auf den zweiten Fehlerfall zurückzuführen sind, anhand von den Informationen, die aus den Messdaten extrahiert werden können, kompensiert werden. Im Mittelpunkt dieser Arbeit steht die Untersuchung der unterschiedlichen Einflussfaktoren auf die Messabweichungen, welche durch Streulicht verursacht werden, und der Entwurf einer Methode zur Kompensierung dieser Messabweichungen. Zu diesem Zweck wurden einfach konstruierte Szenen verwendet. Um die Allgemeingültigkeit der entworfenen Methode zu beweisen, wird diese auch auf reale Szenen übertragen. Die Bewertung der Ergebnisse, die mit der entworfenen Methode erzielt wurden, erfolgt anhand von gängigen statistischen Werkzeugen.
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Details


Erscheinungsdatum
17.11.2010
Sprache
Deutsch
EAN
9783868442885
Herausgeber
sierke VERLAG - Sierke WWS GmbH
Sonderedition
Nein
Autor
Steffen Klein
Seitenanzahl
190
Auflage
1
Einbandart
Broschiert
Schlagwörter
Streulicht, Lichtlaufzeitmessung, Messprinzip, Messsysteme, Messdaten, Licht
Thema-Inhalt
T - Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft TQ - Umweltwissenschaften, Umwelttechnik TB - Technologie, allgemein
Höhe
220 mm
Breite
15.5 cm

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